三寸寒秋 作品
第四百二十八章：一百二十萬億次
計算機室內，韓元一邊講解碳基芯片檢測需要注意的事項，一邊操控著手中的儀器設備。
納米級的硅基芯片的測試過程他沒有講解，是因為沒必要。
畢竟碳基芯片馬上就要跟著出現了，硅基芯片即將徹底退出歷史的舞臺，講硅基芯片的製造方法和檢測方法毫無意義。
至少對於韓元，對於華國來說毫無意義。
反正又不用。
其他國家他不知道，但華國，韓元可以肯定，不用說超過，只要有一種芯片的性能能夠接近硅基芯片，絕對會慢慢的更換掉國內的芯片。
更別提性能還超過硅基芯片的碳基芯片了。
要知道全國大大小小的企業，向高通、英特爾等公司交的專利，以及購買芯片，材料，技術等東西的費用每年都是一筆天文數字。
如果華國能開發自己的芯片，怎麼做，不用想。
這個點韓元是可以肯定的！
當然，對於自己弄出來的碳基芯片的性能，他也有足夠的自信。
雖然他製造出來的碳基芯片在性能上肯定比不上‘碳基集成電路板製備信息’裡面的標準。
但即便是這樣，這些碳基芯片的性能也遠超普通的硅基芯片。
十倍的性能達不到，五六倍應該是有的。
有這個性能，正如網友們說的一樣，這是硅基芯片的爺爺。
.......
計算機室中，韓元檢測著手中的碳基芯片，在基礎的故障測試完成後，他第一個做的就是運行速度測試。
這個是他最關心的，也是直播間裡面的觀眾最關心的。
六十八億顆晶體管，這個數字在硅基芯片裡面並不算什麼，放到22年，連中等級別的芯片裡面的晶體管數量都比這個多。
但放到碳基芯片裡面的話，會有多大的威力？
直播間內的所有人，甚至直播間外的人，包括韓元自己在內，都關心著這個問題。
一片擁有六十八億顆晶體管的碳基芯片，到底有多強？
韓元期待著，將經過基礎故障測試的芯片安置在對應的測試設備中，通過中間計算機啟動了操控程序。
計算一塊芯片的基礎性能，無論是硅基芯片也好，還是碳基芯片也好，其最基礎的就是浮點運算速度了。
至於浮點運算速度的測試方法，他依舊使用的是測試硅基芯片的那兩種。
第一種是常見的度量算法。
第二種則是π數值計算。
這兩種方法，從一開始的磁芯板計算機到後面的集成芯片計算機都在使用。
哪怕是前段時間才製造出來的納米級硅基芯片，韓元都是使用這種方式測試的。
特別是π數值計算，能比度量算法更加精準的反應一塊芯片或者一臺計算機的性能。
......
佈置好碳基芯片，韓元操控中央計算機先打開了裝載有‘度量算法’的程序，將計算功能轉移到佈置在測試設備中的碳基芯片上去。
度量算法的規則其實相當簡單。
就是對常數階、對數階、線性階、線性對數階、平方階、立方階等幾種常見階的多次度量計算
比如讓一塊芯片計算1、2、4、8、16千平方次，需要的秒數分別進行測試一次，而後再將數據記錄下來。
多次進行計算後進行平均，就可以得到一個相對精準的浮點運算速度了。
這種測試方法比較簡單，編寫程序也簡單，便於利用。
但機械化的數值計算無法徹底反映出來一塊芯片的性能。
韓元還記得他製造的第一臺晶體管計算機，當初他同樣是採用了度量算法和π值計算兩種方式。
度量算法給出的運算速度是六百萬每秒左右，π數值計算則要低一些，在五百多萬，接近六百萬的樣子。
除此之外，關於第一臺晶體管計算機，他腦海中的這個系統，也給出了一個計算速度。
韓元清晰的記得系統給出的運行速度是一千七百二十萬，比他自己測得的浮點運算速度要多出幾倍。
兩者偏差這麼大，應該是是測量時使用的方法不一樣導致的，這個系統使用的測量方法對於硬件的使用效率更高。
納米級的硅基芯片的測試過程他沒有講解，是因為沒必要。
畢竟碳基芯片馬上就要跟著出現了，硅基芯片即將徹底退出歷史的舞臺，講硅基芯片的製造方法和檢測方法毫無意義。
至少對於韓元，對於華國來說毫無意義。
反正又不用。
其他國家他不知道，但華國，韓元可以肯定，不用說超過，只要有一種芯片的性能能夠接近硅基芯片，絕對會慢慢的更換掉國內的芯片。
更別提性能還超過硅基芯片的碳基芯片了。
要知道全國大大小小的企業，向高通、英特爾等公司交的專利，以及購買芯片，材料，技術等東西的費用每年都是一筆天文數字。
如果華國能開發自己的芯片，怎麼做，不用想。
這個點韓元是可以肯定的！
當然，對於自己弄出來的碳基芯片的性能，他也有足夠的自信。
雖然他製造出來的碳基芯片在性能上肯定比不上‘碳基集成電路板製備信息’裡面的標準。
但即便是這樣，這些碳基芯片的性能也遠超普通的硅基芯片。
十倍的性能達不到，五六倍應該是有的。
有這個性能，正如網友們說的一樣，這是硅基芯片的爺爺。
.......
計算機室中，韓元檢測著手中的碳基芯片，在基礎的故障測試完成後，他第一個做的就是運行速度測試。
這個是他最關心的，也是直播間裡面的觀眾最關心的。
六十八億顆晶體管，這個數字在硅基芯片裡面並不算什麼，放到22年，連中等級別的芯片裡面的晶體管數量都比這個多。
但放到碳基芯片裡面的話，會有多大的威力？
直播間內的所有人，甚至直播間外的人，包括韓元自己在內，都關心著這個問題。
一片擁有六十八億顆晶體管的碳基芯片，到底有多強？
韓元期待著，將經過基礎故障測試的芯片安置在對應的測試設備中，通過中間計算機啟動了操控程序。
計算一塊芯片的基礎性能，無論是硅基芯片也好，還是碳基芯片也好，其最基礎的就是浮點運算速度了。
至於浮點運算速度的測試方法，他依舊使用的是測試硅基芯片的那兩種。
第一種是常見的度量算法。
第二種則是π數值計算。
這兩種方法，從一開始的磁芯板計算機到後面的集成芯片計算機都在使用。
哪怕是前段時間才製造出來的納米級硅基芯片，韓元都是使用這種方式測試的。
特別是π數值計算，能比度量算法更加精準的反應一塊芯片或者一臺計算機的性能。
......
佈置好碳基芯片，韓元操控中央計算機先打開了裝載有‘度量算法’的程序，將計算功能轉移到佈置在測試設備中的碳基芯片上去。
度量算法的規則其實相當簡單。
就是對常數階、對數階、線性階、線性對數階、平方階、立方階等幾種常見階的多次度量計算
比如讓一塊芯片計算1、2、4、8、16千平方次，需要的秒數分別進行測試一次，而後再將數據記錄下來。
多次進行計算後進行平均，就可以得到一個相對精準的浮點運算速度了。
這種測試方法比較簡單，編寫程序也簡單，便於利用。
但機械化的數值計算無法徹底反映出來一塊芯片的性能。
韓元還記得他製造的第一臺晶體管計算機，當初他同樣是採用了度量算法和π值計算兩種方式。
度量算法給出的運算速度是六百萬每秒左右，π數值計算則要低一些，在五百多萬，接近六百萬的樣子。
除此之外，關於第一臺晶體管計算機，他腦海中的這個系統，也給出了一個計算速度。
韓元清晰的記得系統給出的運行速度是一千七百二十萬，比他自己測得的浮點運算速度要多出幾倍。
兩者偏差這麼大，應該是是測量時使用的方法不一樣導致的，這個系統使用的測量方法對於硬件的使用效率更高。