京餘 作品

八十 反接雙結字符組合(五)

    “為了表述方便,可以把該結構豎直起來,按照元流傳輸方向,從上到下將三段晶體分別稱為’集鍵區’、’基區’、’發射區’。

    “’集鍵區’與’基區’之間是第一個’鍵穴結’,可稱為’上方結’;’基區’與’發射區’之間是第二個’鍵穴結’,可稱為’下方結’。

    “在’基區’與’發射區’之間外接正向元壓va,構成第一個迴路,其中元流記為ia;在’集鍵區’與’發射區’之間外接正向元壓vb,構成第二個迴路,其中元流記為ib,該回路總元壓為vc,並且串聯一個’阻’字符,起到分壓作用;再將這兩個迴路於’發射區’後端媾合,共地相連,則’發射區’後端的元流為ia與ib的和。

    “這種使用形式在’反接雙結字符組合’中極為常見,可以叫做’共發射區迴路模式’,圖示如下…

    “’反接雙結字符組合’的典型應用,便是輸入元流對於輸出元流的放大作用,在上述迴路模式中,便是元流ia對於元流ib的放大作用,我們可以簡要分析一下:

    “調整迴路,使得元壓vc大於元壓vb大於元壓va,且元壓vb與元壓vc的差值大於’上方結’的反向偏置元壓,則’上方結’呈反向導通狀態,’下方結’呈正向導通狀態。

    “前面說過,’基區’很薄且熱摻雜率很小,則’下方結’中形成鍵子多而空穴少的局面,大量鍵子在外加元壓的作用下進入’基區’,只有很小一部分填補進空穴;

    “而’上方結’由於是反向導通狀態,與’下方結’的元流方向相同,所以兩個’鍵穴結’中的鍵子遷移方向也相同,在適當元壓的作用下,’下方結’中的大量多餘鍵子便會穿過’基區’,進入到’上方結’中。

    “如前所述,這種鍵子遷移作用是晶體內部元流的一種可能形式,而且鍵子遷移作用越高,內部元流也就越大。

    “從’下方結’到’上方結’的鍵子遷移形成的元流,與’上方結’中本身存在的反向飽和元流加在一起,便是’共發射區’迴路模式中,第二個迴路的輸出元流。

    “在這種情況下,由於’下方結’中的大量鍵子進入到第二個迴路當中,第一個迴路中的鍵子遷移作用便明顯很少,根據迴路中元壓值的設置,以及上述’鍵穴結’的思想,可以近似認為,第一個迴路中的元流只由少量鍵子與少量空穴結合產生,而且’下方結’中的少量鍵子填入’基區’空穴後,又在外加元壓va的作用下,源源不斷流出’下方結’,’下方結’的空穴便也源源不斷出現,從而持續驅動整個迴路,使得總體的鍵子遷移作用持續下去。

    “’上方結’中的反向飽和元流極小,在計算中可以忽略,則元流ib可近似為從’下方結’到’上方結’的大量鍵子遷移,而元流ia是’下方結’中的少量鍵子遷移,元流ia與ib之間近似擁有一種比例關係,即ib=α*ia,這個α,便是’反接雙結字符組合’中的’元流放大係數’。”

    “當然,不同形式的’反接雙結字符組合’在實際使用中,擁有不同的’元流放大係數’,歸根結底卻只是’結’字符繪製形式的不同,在’鍵穴結’思想中,’元流放大係數’也受到三段晶體的厚度與熱摻雜率的影響,從而出現不同的數值。